Настольный электронный микроскоп TM4000 / TM4000Plus

ДоговариваемыйОбновление на07/10

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

Подробности о продукте

Японские настольные зеркалаА.

Уникальная низковакуумная система сканирующих зеркал Nitachi TM4000 позволяет быстро наблюдать образцы без какой - либо обработки. Оптимизация TM4000 обеспечивает режим наблюдения при трех различных напряжениях 5 кВ, 10 кВ и 15 кВ, в каждом из которых можно настроить 4 передачи тока и оснастить 4 - сегментированными детекторами обратного рассеяния, которые собирают информацию изображения в четырех разных направлениях и визуализируют образцы в нескольких режимах. С совершенно новой навигационной функцией SEM - MAP, в то время как изображения зеркал могут быть экспортированы в форме отчета. Оснащен большим бункером для образцов, вмещающим максимальный диаметр образца 80 мм и толщину 50 мм.

TM4000Plus представляет собой высокочувствительный низковакуумный вторичный электронный зонд UVD на основе TM4000, который обладает отличным качеством изображения в условиях низкого вакуума. TM4000Plus накладывает вторичные электронные изображения и электронные изображения обратного рассеяния и отображает их в режиме реального времени, получая наибольшее количество информации о образцах. Дополнительные приложения богаты и имеют много дополнительных функций.

Основные параметрыА.

1. Условия наблюдения: 5kV / 10kV / 15kV (все четыре передачи могут быть отрегулированы), EDX

2. Увеличение: 10×100000 ×

3. Режим наблюдения: проводник (TM4000Plus), стандартный режим, режим устранения заряда

4. Детектор: 4 детектора с раздельным задним рассеянием, низковакуумный детектор вторичных электронов (TM4000Plus)

Сфера обслуживания:

Испытательный проект Test Item	Сфера обслуживания Scope
Микроскопическое наблюдение	В соответствии с требованиями заказчика образец заданной области, указанной формы для наблюдения и анализа, увеличение <Десять тысяч.В два раза; Нельзя проверять жидкости и летучие вещества.
Элементный анализ	Диапазон измерений/Точность: Li3~Cf98 Сфера применения: полимеры, металлы, неорганические вещества, порошки и т.д.; Качественная полуколичественная; Нельзя проверять жидкости и летучие вещества.
Анализ профилей	1. Наблюдения с использованием оптической микроскопии и сканирующей электронной микроскопии по образцам разломов 2. Основной метод разрушения(Устойчивость, хрупкость)Источник трещины, направление растяжения и т.д. 3. Отчет содержит изображения излома и результаты анализа, но не может определить причину разрушения
Анализ отказов инородного тела	Анализ продуктов коррозии металлов качественный анализ выделения металлического покрытия Анализ загрязнения среды
Качественный анализ толщины покрытия и состава	Для частичного вакуумного покрытия0.8μmТолщина покрытия ниже, выполняетсяSEMТестирование толщины с максимальным разрешением0.01μmАнализ компонентов сканирования многослойных покрытий

Области примененияА.

Наука о жизни

Материаловедение

Химия

Электронное производство

Пищевая промышленность

Похожий продукт рекомендовать