Японский спектрофотометр UV - VIS - NIR в ультрафиолетовом / видимом / ближнем инфракрасном диапазоне UH4150

Особенности:

При переключении длины волны детектора возникают небольшие различия в сигналах, и даже в этом случае UH4150 обеспечивает высокоточное измерение.А.

Несколько детекторов, установленных на интегральном шаре, могут быть измерены в ультрафиолетовом - видимом - ближнем инфракрасном диапазоне длин волн. Из - за использования японской профессиональной интегральной сферической структуры и технологии обработки сигналов изменение значения поглощения при переключении детектора (разница в уровне сигнала) уменьшается до малого.

Высокопроизводительная призматическо - растровая двухмонохроматическая система Hitachi обеспечивает низкое рассеяние света и низкую поляризацию.

UH4150 Оптическая система с двойным монохроматором с призмой - решеткой (P - G) поддерживает характеристики оптической системы U - 4100. Система призма - решетка (P - G) не претерпела значительных изменений в интенсивности поляризованного света S и P по сравнению с обычной системой растр - решетка (G - G). Даже для образцов с низкой проницаемостью и отражательной способностью UH4150 обеспечивает измерение низкого уровня шума.

Параллельные лучи обеспечивают точное измерение отраженного и рассеянного света.

Угол падения очень важен для определения зеркального отражения твердых образцов. Для концентрированных пучков, поскольку угол падения будет отличаться в зависимости от фокусного расстояния линзы и других факторов, моделирование проектных значений оптических пленок, таких как проводящие многослойные пленки и призмы, будет отличаться от фактических значений.

Однако для параллельных лучей угол падения по отношению к образцу всегда одинаков, достигая высокоточного измерения зеркального отражения. Кроме того, параллельные лучи могут использоваться для оценки скорости диффузии (туманности) и измерения проницаемости линзы.

Существует множество детекторов, подходящих для различных целей измерения.

Можно использовать интегральные шары из восьми различных материалов, размеров и форм. * 2 * 3

Используется совершенно новый эргономический дизайн.

Улучшение дверей камеры образцов для повышения работоспособности. Для облегчения операций по замене образцов и аксессуаров применяется эргономичный дизайн.

Совместимость с различными приложениями U - 4100.

Общие приложения применяются к двум моделям. Приложение U - 4100 также может быть использовано в UH4150 * 4, поскольку оно может быть демонтировано и подходит для большего количества типов измерений.

Поток образцов выше, чем у U - 4100.

Поддерживая высокую производительность оптической системы U - 4100, UH4150 обеспечивает более высокое измерение потока. При измерении приборами предыдущих моделей с интервалом в 1 нм скорость сканирования должна составлять 600 мм / мин. Модель UH4150 может быть измерена с интервалом 1 нм при скорости сканирования 1200 нм / мин, что значительно сокращает время измерения. * 5UH4150 может быть измерен от 240 нм до 2600 нм примерно за 2 минуты, что особенно эффективно для образцов, требующих измерения в диапазоне УФ - видимой - ближней инфракрасной длины волны, таких как солнечные отражатели.

Линия системных продуктов:

Система обнаружения интегральных сфер

Можно использовать различные 60 - мм интегральные шары. Дополнительные аксессуары: 150 мм интегральный шар или аксессуар с непрерывным переменным углом абсолютного отражения (здесь перечислены 60 мм стандартный интегральный шар).

Система обнаружения прямого света

Прямой детектор света встроен в спектрофотометр. Для замены прямых оптических детекторов предлагаются другие селективные детекторы, такие как различные интегральные шары и аксессуары с непрерывным переменным углом абсолютного отражения.

Спецификация