70 - нм калибровочные образцы сверхвысокого разрешения (forAFM, SEM, Auger и FIB)

ДоговариваемыйОбновление на11/25

Модель

Природа производителя: Производители

Категория продукта

Место происхождения

Онлайн Консультация

Обзор

70 нм калибровочные образцы сверхвысокого разрешения (для AFM, SEM, Auger и FIB)

Подробности о продукте

полоса70 нмИнтервал, одномерное расположение, с точностью до ±0,25 нм. Разделение сертификатов на две категории и отсутствие сертификатов. Расстояние между сертификатами требует ссылки на фактические цифры в сертификате. Точные голографические полосы подходят для микроскопов с очень высоким разрешением (25ккс-1000кксТочная калибровка горизонтального направления, а также точные калибровочные приборы в наномасштабе и т.д. Обладает высокой стабильностью и эксплуатационными характеристиками.

Размер кремния:4Х3Х0,5 ммИзготовление рисунка диоксида кремния (ширина хребта)35 нмВысокий35 нмЭтот параметр не откалиброван).

Предлагаются две модели продукции:Модель 70-1DиМодель 70-1DUTCИз них.Модель 70-1DКалибровка образцов,Сертификация с производителем,Отсутствие обратной силы;Модель 70-1DUTCКалибровка образцов,Сертификация,Отслеживаемые источники,Предоставление сертификатов (PTB, немецкий аналог NISTВ)).

Информация о заказе:

артикул	название продукта	спецификация
80127-1Д	Модель 70-1D, стандарт калибровки, без установки	штука
80127-1D-X	Там же, может быть предоставлен стол для образцов со штифтом; Или специально.АФМВ)15 ммнержавеющая стальдиск); Или назначить стол для образцов.	штука
80127-1ДК	Модель 70-1DUTCС сертификатом,Разmontaнный	штука
80127-1DC-X	Там же, может быть предоставлен стол для образцов со штифтом; Или специально.АФМВ)15 ммнержавеющая стальдиск); Или назначить стол для образцов.	штука

Похожий продукт рекомендовать