GIF Continuum with Stela - Расширенный семинар по EELS и фильтрации энергии 4D STEM на основе гибридного обнаружения пикселей

О нас

Ametec Trading (Shanghai) Co., Ltd

Электронная почта
yue.li@ametek.com
Телефон
15221486284
Адрес
Шанхайская экспериментальная зона свободной торговли Futedong Third Road 526 1 2 этажа A1, A4

Дата:2025-11-10Читать:1

GIF Continuum with Stela - Расширенный семинар по EELS и энергетической фильтрации 4D STEM на основе гибридного обнаружения пикселей

　　Квантовая долина Академии наук провинции Хэнань

25 ноября 2025 г. (вторник) 09: 30 - 17: 00

Гибридный пиксельный детектор (Hybrid Pixel Detector, например, камера Gatan Stela) - это новая технология обнаружения электронов, которая быстро развивается и применяется в области электронных микроскопических представлений в последние годы. Гибридные пиксельные детекторы, обладающие преимуществами высокой скорости, динамического диапазона и высокой чувствительности, идеально подходят для высокоуровневых дифракционных характеристик, таких как MicroED (3DED) и 4D STEM. Исходя из этого, Gatan успешно интегрировал гибридный пиксельный детектор и применил его к спектральной и энергетической фильтрационной системе электронных потерь энергии - GIF Continuum с системой Stela, которая объединяет преимущества гибридного пиксельного обнаружения с фильтрацией энергии, позволяет проводить исследования дифракционного изображения энергетической фильтрации, устраняет негативное влияние неупругого рассеяния на результаты, улучшает четкость, отношение сигнала и шума к дифракционному пятну / дифракционному диску и повышает качество исходных данных, улучшает результаты структурного анализа и скорость успеха анализа.

Система GIF Continuum with Stela - это не только инструмент для дифракционных исследований, но и, что не менее важно, качественный скачок в спектроскопии потерь энергии (EELS). GIF Continuum with Stela использует камеру Stela с большой площадью 1024 * 512 пикселей, способную собирать подробные спектральные линии почти нулевого шума с высокой скоростью до 9000 спектров в секунду, по сравнению с традиционными камерами с сцинтилляционными волоконно - оптическими связями, для обработки различных образцов, от обычных образцов до таких систем, как чувствительные оксиды электрического пучка, полимеры, молекулярные сита и другие системы, не стойкие к облучению, чтобы получить беспрецедентную информацию о спектральных линиях с высоким пространственным разрешением и высоким уровнем сигнала, включая потерю сигналов с высоким энергетическим сердечником с очень малым сечением неупругого рассеяния, что значительно повышает качество и эффективность работы ELS, Новые возможности открываются в связи с изучением материалов и систем, которые трудно представить с высоким пространственным разрешением под зеркалом.

Преимущества гибридного обнаружения пикселей в сочетании с фильтрацией энергии в EELS и дифракционных представлениях включают, но не ограничиваются:

Сбор деталей высоты для восстановления тонкой структуры спектральных линий EELS

Спектроскопический анализ чувствительных к облучению проб при низких дозах

высокоскоростной анализ распределения поверхности EELS с большим пространственным разрешением

Получение спектроскопии EELS с временным разрешением

Многокадровое накопительное сканирование с разделением дозы для получения меньших повреждений от облучения и лучшей коррекции дрейфа

Сбор данных 4D STEM с высоким коэффициентом сигнала / шума для энергетической фильтрации

Сбор данных MicroED для фильтрации энергии для получения более точной кристаллической структуры

И еще больше...

Благодаря этому личному техническому семинару вы получите интуитивное представление о том, как многомерная система GIF / EELS, использующая гибридную технологию обнаружения пикселей, может улучшить производительность для представления микро - аналитических зеркал под (S) TEM, соответственно, из технических принципов, обмена примерами применения и практического опыта на борту. Этот семинар будет состоять из приглашенных академических докладов, технических отчетов и презентаций на борту, часть которых будет выполнена на JEOL JEM - ARM300F2 с Gatan GIF Continuum with Stela. Система также оснащена обычной сцинтилляционной камерой, поэтому вы можете очень интуитивно видеть, что в тех же условиях освещения и сбора электронного луча гибридная пиксельная камера значительно улучшает качество спектральных линий по сравнению с традиционной камерой, особенно для образцов, которые не выдерживают облучения электронным лучом, что позволяет получать спектральную информацию о образцах с меньшими электронными дозами при более низких радиационных повреждениях.

　　01 Время и место

25 ноября 2025 г. (вторник), 09: 30 - 17: 00

Центр зеркал Института квантовых материалов и физики Академии наук провинции Хэнань

Чжэнчжоу Гуйчэн Хуэйский район, улица Ханьюэ, 26 Центральная равнина Квантовая долина (рядом с Восточным вокзалом Чжэнчжоу)

　　02　Расписание заседаний

　　03　Регистрация

За участие в семинаре не взимается плата, делегатам предлагается организовать свой собственный транспорт и поездки.

С нетерпением ждем вашего визита, чтобы продолжить общение с вами, чтобы помочь нам лучше понять потребности и проблемы в вашем электронном микроскопическом представлении!

Пожалуйста, зарегистрируйтесь через представителя по продажам в вашем регионе или сканируя QR - код ниже:

Типичный спектр потерь энергии, взятый из камеры Stela, имеет односпектральный диапазон энергии 1500 эВ, от низкоэнергетических до высокоэнергетических элементов с отличным соотношением сигнала и шума и деталями спектральных линий с высоким энергетическим разрешением.

Контраст синхронной массы CBED до и после фильтрации энергии GIF (эластичная электронная визуализация).

　　Особая благодарность:

Провинциальная академия наук провинции Хэнань, Институт квантовых материалов и физики оказали большую поддержку этому техническому семинару, а профессор Чэн Шаобо принес замечательный академический обмен!

Последняя статья:Предисловие I Национальная ежегодная научная конференция по электронной микроскопии 2025 года · Уханьский международный конференц - центр

Следующая статья:Приглашение на вебинар: Прогресс EBSD в геологических материалах: влияние сферической калибровки и экспериментального моделирования материнства